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2024/07/01
Stealth Dicing™（隐形切割）技术
Stealth Dicing（隐形切割）技术是一种使用激光的激光切割技术，具有全新的概念。由于“完全干燥工艺”、“无截口损失”、“无切屑”、“高弯曲强度”等特点，该技术适用的器件范围将扩大到包括 MEMS 器件和存储器件等。
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2024/06/24
促进无接触式机械操作和节省人工的自主机器人的 3D TOF 传感器 测距图像传感器 S15452/S15453/S15454-01WT
卫生管理机器的无接触式操作、用于确保社交距离的测量工具，以及节省人工的自主机器人在日常生活中变得日益普遍。这一趋势引起了人们对实现此类技术的传感器技术的关注。 该测距图像传感器旨在通过间接 TOF（飞行时间）方法测量与物体的距离。它可用于在各种需要无接触（非接触式）或节省人工技术的情况下进行人员/物体检测和形状识别。 我们最近在产品阵容中增加了三款薄型背照式传感器（64 像素、256 像素和 96 × 72 像素）。 我们计划进一步扩大传感器阵容并发布集成了光源（脉冲激光二极管）、光学系统和积分电路 (ASIC) 的模块产品。
提供世界级紫外灵敏度和抗紫外线性能 结合了 TDI-CCD 和 CMOS 读出电路的新型图像传感器 TDI-CCD 图像传感器 S14810/S14813
滨松开发了一种图像传感器，结合了 TDI-CCD 的优势，即使在高速成像期间也能确保图像的足够辉度，同时具有 CMOS 读出电路的优点，可实现高速行速率和数字输出。
专为检测紫外光而设计 (λ=266 nm) 用于半导体检查设备的硅 APD "S14124-20"
S14124-20 是一款对 266 nm 紫外光具有高灵敏度的硅 APD。 在半导体制造工艺中，由于电路图案的工艺几何形状小型化，必须在晶圆上检测到的缺陷变得越来越小。 为了提高检测此类缺陷的精度，在光学半导体检查设备中使用对紫外光具有高灵敏度的短波长光源和探测器。 滨松的新产品 S14124-20 对于 266 nm 波长的光提供 87% 的高量子效率，这是用作半导体检查设备光源的 YAG 激光器的第四次谐波。 本产品可用作半导体检查设备、激光加工设备和光罩缺陷检查设备的探测器。 数据单 [523 KB/PDF]
高紫外灵敏度和抗紫外线性能 适用于监控强紫外线光源的紧凑型硅光电二极管 "S15289-33"
S15289-33 是一款背照式硅光电二极管，结合了当前紫外光电二极管（高紫外灵敏度 S1337 系列和高抗紫外线 S12698 系列）的功能，同时具有紧凑的 CSP（芯片级封装）结构。 它适用于监控强紫外光源等用途，因为它在紫外区域具有高灵敏度，并且紫外线辐射造成的灵敏度劣化极轻微。 与当前产品相比，它更紧凑，因而能够安装在狭小的空间内，也能够安装在小型和薄型的光监测装置上。 此外，由于沿产品边缘的死区较小，可以并排铺设多个产品。 它还可用于各种分析和光学测量设备。
高分辨率和高速 我们的工业相机线阵传感器系列中新增的 8k 像素类型 CMOS 线阵图像传感器 S15778
对于需要高速行速率的工业相机，我们已将高速 CMOS 线阵传感器系列的首款 8k 像素类型 CMOS 线阵图像传感器 S15778 添加到我们的产品阵容中。
适用于各种分析和测量用途的全新硅 APD 阵列阵容 在短波长范围内具有高灵敏度的 1×16 ch APD 阵列 S15249
S15249 是一系列硅 APD（S12053 系列），在紫外光到可见光区域具有高灵敏度，广泛用于分析和测量设备。 通过将各元件之间的间隙大幅缩小到 60 μm，有助于实现测量，同时减少由于间隙造成的信号光损失。 封装紧凑，价格便宜，适合批量生产，采用表面贴装技术，在硅光电二极管阵列 (S15158) 中得到了验证。
我们新增了一种“TOF 传感器”，这种传感器有助于 需要考虑隐私的“状态监控”和“安全监控”等情形。 测距图像传感器 S16443-01WT、S16444-01WT
安防相机旨在捕获可疑人员和活动的图像，因此它们必须能够捕获高分辨率图像。
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