质谱


质谱分析是一种通过离子化物质的原子和分子并测量离子的质量数和数量来鉴定和量化物质的分析技术。与其他分析技术相比,一次质谱即可提供大量信息,因此可以应用于各种领域,包括用于研究蛋白质的蛋白质组学。

我们提供各种设备,例如质谱仪中不可或缺的离子探测器。

质谱仪由什么组成?
质谱仪主要由离子化部分、离子分离部分和检测部分组成。根据离子化和分离方法将质谱仪分为各种类型。质谱仪中设备所需的功能因质谱仪的类型而异。
我们已经开发并生产了与质谱分析相关的各种产品,例如作为检测部分关键设备的离子探测器、用于光离子化的光源和用户测量支持工具。

质谱 - 我们的设备正在这里发挥积极作用!

TOF-MS
(飞行时间质谱)

TOF-MS(飞行时间质谱)会在离子通过加速电场时将其分离,并根据每个离子的质荷比测量其飞行时间的差异。由于必须以极高的精度发现飞行时间的微小差异,因此 TOF-MS 的探测器必须具有非常快的响应和非常低的时间抖动。

Q-MS
(四极质谱)
作为离子分离的方法,Q-MS(四极质谱)会利用由四个平行电极(两个金属棒为一对,共两对)组成的四极。向四个电极供电的高频电压只会选择(筛选)满足共振条件的离子。

ICP-MS
(电感耦合等离子体质谱)
ICP-MS(电感耦合等离子体质谱)使用等离子体作为离子源。这种方法非常灵敏,能以 ppt(万亿分之一)的水准对样品中包含的微量元素进行定性和定量分析。

质谱主题

非常适用于便携式质谱仪的探测器

将质谱的用途扩展到安全领域,例如在机场检测爆炸性物质
我们可提供能够在难以准确检测离子的低真空环境中运行的离子探测器。这些离子探测器旨在实现针对便携式质谱仪而优化的功能和特性,将其用途扩展到安全领域,例如在机场进行行李检查。

MALDI TOF-MS 的预处理工具

提供支持工具以简化繁琐的样品处理流程
我们还为不需要基质的 MALDI TOF-MS 测量提供支持工具。这些预处理工具可在小分子范围内的成像质谱中表现出非常高的性能。

非常适用于离子探测器的高压电源

只需单一设备即可提供正极和负极输出的稳压高压电源
我们还会为操作质谱仪离子探测器提供高性能电源。我们凭借设备设计来实现这一点,这些设备设计通过多年来为光电倍增管的操作而开发的制造电源技术来实现非常稳定的操作。我们还竭尽全力满足用户的自定义请求。

用于软离子化的光源

非常稳定的氘光源
与 EI(电子离子化)相比,这些氘光源能发出具有 10.78 eV 高能量的光,并以最小的碎裂程度实现“软离子化”。

我们的质谱设备
我们的设备具有以下特点:

广泛的探测器阵容
我们提供各种检测设备,如 MCP、EM 和 PMT,因此可以从最符合您设备的多种选项中推荐最佳设备。我们还通过结合我们在开发质谱设备方面的丰富经验,以及与半导体制造、激光器开发和材料研究相关的各种尖端技术,开发了具有前所未有的功能特点的独特设备。

提供定制设备
质谱分析装置需要的特性和形状因设备类型不同而有很大差异。为了满足标准产品未涵盖的规格,我们还积极开发定制设备以满足客户需求。
滨松销售办事处遍布世界各地,可提供快速便捷的客户支持。请随时联系我们。

未来前景
质谱仪目前广泛应用于食品、药品和水的质量控制、有害物质评估和医疗诊断等领域。这导致对规模、性能和成本的多元化的需求增加。
为了刺激质谱市场的发展,我们不断开发具有针对个别用途优化特性的关键设备。

TOF-MS

TOF-MS(飞行时间质谱)会在离子通过加速电场时将其分离,并根据每个离子的质荷比测量其飞行时间的差异。由于必须以极高的精度发现飞行时间的微小差异,因此 TOF-MS 的探测器必须具有非常快的响应和非常低的时间抖动。

TOF-MS 所需的特性和功能
时间响应特性
TOF-MS(飞行时间质谱)会根据每个离子的质荷比测量其飞行时间的差异。探测器时间响应特性在 TOF-MS 中尤其重要,因为探测器必须对飞行时间的微小差异或对由电场加速的离子到达某点的时刻进行准确测量。

在具有高分辨率的高性能质谱仪中,探测器必须具有亚纳秒响应时间 (半宽度)。我们能提供适用于各种类型 TOF-MS 的多种探测器产品阵容,包括高速亚纳秒级探测器,以及已针对紧凑型光谱仪进行优化且响应时间为几纳秒的较小探测器。

平整度
对离子入射时序的影响

在质荷比相同的多个离子同时入射时,离子入射的探测器表面平整度是重要的因素。

平整的入射表面有助于最大限度减小离子到电子转换时序的差异,并且由此可以保留每个离子的可靠飞行时间数据。

响应波形对称

响应波形可确定用于分析的测量数据是否易于处理和使用。

探测器:MCP 组件 MIGHTION

偏压:MCP:600 V,AD:-350 V

浮动操作
双极离子检测

测量双极离子需要使用能浮动操作的探测器。具有高击穿电压的联轴器必须在高正负电压下用于浮动操作。

动态范围
脉冲线性度

在定量分析中使用 TOF-MS 时,动态范围尤为重要。我们提供的探测器具有比以前提供的产品更宽的动态范围。

探测器:MCP 组件 MIGHTION

MCP 输入:-6 kV,50 欧姆终端

F14845-11:3.2 V 时的线性度为 90%

F14845-12:12 V 时的线性度为 90%

建议用于 TOF-MS 的产品

探测器

特点

详细参数

特性

产品信息

图像

型号

响应特性

(典型值)

有效面积

(mm)

浮动操作

动态范围

尺寸

MCP 组件

F9890-13 / -14

快速响应,标准型号

900 ps 至 1200 ps

Φ 27,Φ 42

平均

平均

F9890-31 / -32

快速响应,浮动

450 ps 至 700 ps

Φ 27,Φ 42

±10 kV

平均

平均

F12334-11

紧凑

1500 ps

Φ 20,Φ 27,Φ 42

平均

良好

F13446-11

紧凑,浮动

1300 ps 至 1500 ps

Φ 27,Φ 42

±5 kV

平均

良好

MIGHTION F14845 系列

快速响应,宽动态范围

550 ps

Φ 27

优秀

平均

Q-MS

Q-MS(四极质谱)非常适用于定量分析,需要使用宽动态范围、高线性度的探测器。视设备的类型而定,探测器寿命和增益率稳定性也很重要。

Q-MS 所需的特性和功能

动态范围

动态范围对于扩展样品浓度的测量范围很重要。具有宽动态范围的探测器,可以一次测量从低到高的所有样品浓度。

若浓度测量范围较窄,将对测量数量产生不利影响。具体来说,稀释样品后必须进行多项测量,这可能会为设备用户带来很多烦扰并损失时间。

使用寿命长
 

使用寿命长
探测器最终会随着长期使用而劣化。探测器劣化后,用户必须立即停止测量,并使用新的探测器予以替换。

探测器寿命更长意味着经过更长的时间才需要更换探测器,这有助于缩短设备停机时间。

增益率稳定性

探测器增益率(倍增系数)会影响测量再现性。若探测器增益率不稳定,则需要频繁校准,会产生时间损失与额外的工作量。

使用具有稳定增益率的探测器将减少校准所需的时间和工作。

双极离子检测

检测正离子和负离子需要使用具有转换倍增器电极的探测器。我们的探测器中安装的所有转换倍增器电极都具有很高的离子到电子转换效率,可提供非常灵敏的测量。

建议用于 Q-MS 的产品
 

 

探测器

特点

详细参数

特性

产品信息

图像

型号

有效面积

(mm)

增益率

(典型值)

工作真空度

(Pa)

双极检测

动态范围

寿命

尺寸

电子倍增管

CERARION

R14747 系列

陶瓷

6.6 x 7.0

3.5 x 106

0.1

兼容※1

良好

良好

良好

电子倍增管

R6985-80

双极检测

Φ11.0

1.0 x 106

1 x 10-2

兼容

良好

平均

平均

R4146-10

8.0 x 1.0

1.0 x 107

1 x 10-2

 

良好

平均

良好

R8810

紧凑

低真空工作

Φ3.0

2.0 x 103

0.5

 

平均

平均

良好

MCP 组件

F14844

Φ14.5

1.0 x 106

1.0

 

平均

平均

良好

※1:仅 R14747-80

ICP-MS

ICP-MS(电感耦合等离子体质谱)使用等离子体作为离子源。这种方法非常灵敏,能以 ppt(万亿分之一)的水准对样品中包含的微量元素进行定性和定量分析。

ICP-MS 所需的特性和功能
宽动态范围
ICP-MS 会使用等离子体对液体样品中的元素进行高效离子化,然后测量离子的质量以分析样品。探测器必须具有宽动态范围,以便以 ppt 水准对样品中所含微量元素进行定性和定量识别。我们的 ICP-MS 探测器可提供两种不同增益率的测量模式,以实现出色的动态范围。

建议用于 ICP-MS 的产品
电子倍增器 R13733
R13733 电子倍增器是一款多功能探测器,具有两种不同的测量模式:模拟测量模式与计数模式。根据需要在两种测量模式中任选其一,可实现宽动态范围。

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